49 10 94 44 021
82 09876 0912
روزهای شنبه الی چهارشنبه از ساعت ۱۰ الی ۲۰

مرکز آموزش میکروتیک

مجری برگزاری دوره ها و آزمون های بین المللی میکروتیک
مرکز آموزش میکروتیک
۲۸ فروردین ۱۳۹۶

آشنایی و شروع عیب یابی تست سخت افزار

آشنایی و شروع عیب یابی تست سخت افزار

ما در این فصل برخی از مفاهیم اساسی در زمینه تست کردن را معرفی خواهیم نمود. ابتدا به بحث درباره عبارات خرابی مدار (fault)، خطا (error)، از کار افتادگی (failure) می پردازیم و خرابیها را مطابق با شیوه رفتارشان به مرور زمان به خرابیهای دائمی و غیردائمی طبقه بندی می کنیم.
ما به تحلیلی آماری از خرابیها خواهیم پرداخت، و نرخ از کار افتادگی و زمان متوسط برای کار افتادگی را معرفی می کنیم. ما نشان می دهیم که چگونه نرخ از کار افتادگی در دوره عمر یک محصول تغییر می یابد و چگونه نرخهای از کار افتادگی سیستمهای سری و موازی را می توان محاسبه نمود. ما همچنین علل فیزیکی و الکتریکی خرابیها، با عنوان مکانیسمهای از کار افتادگی، را توضیح می دهیم.
ما تستها را مطابق با تکنولوژی که برای آن طراحی شده اند، پارامترهایی که مورد ارزیابی قرار می دهند، هدفی که برای آن نتایج تست استفاده می شوند، و روش کاربرد تست طبقه بندی می کنیم.
سپس به بیان رابطه بین بهره وری فرایند تولید چیپ ، پوشش خطای یک تست (که کسری از تعداد کل خرابیهای نشاسایی شده توسط یک تست معین است) و سطح کاستی (کسر بخشهای بدی که تست را پاس می کنند) می پردازیم. از این می توان برای ماسبه مقدار تست مورد نیاز برای یک سطح کیفی مشخص از محصول استفاده نمود.
در نهایت، به بحث درباره اصول اقتصادی تست کردن از جهت زمان ورود به بازار (time-to-market)، عایدی، هزینه های توسعه تست و هزینه نگهداری می پردازیم.