49 10 94 44 021
82 09876 0912
روزهای شنبه الی چهارشنبه از ساعت ۱۰ الی ۲۰

مرکز آموزش میکروتیک

مجری برگزاری دوره ها و آزمون های بین المللی میکروتیک
مرکز آموزش میکروتیک
۲۳ فروردین ۱۳۹۶

سطح نقص به صورت تابعی از پوشش خرابی

سطح نقص به صورت تابعی از پوشش خرابی

فرض کنید که یک تراشه معین دقیقا دارای n خرابی stuck-at (SAF) باشد. یک SAF خرابی است که در آن یک خط واحد دارای یک مقدار دائمی منطق ۰ یا ۱ می باشد. فرض کنید m تعداد خرابیهای تشخیص داده شده (m ≤ n) به وسیله یک تست برای SAFها باشد. علاوه بر این، فرض کنید که احتمال وقوع یک خرابی مستقل از وقوع هر گونه خرابی دیگری است (یعنی هیچ خوشه بندی وجود ندارد)، و اینکه تمام خرابیها به اندازه ای برابر با احتمال p محتمل هستند.

 

اگر A نشانگر این رویداد باشد که یک قطعه عاری از نقایص است، و B این رویداد باشد که یک قطعه برای m نقیصه مورد آزمایش قرار گرفته ولی هیچ ایرادی یافته نشده است، در این صورت معادلات ذیل را می توان استخراج نمود.
پوشش خرابی تست به این صورت تعریف می شود:
FC = m/n.                 (۱٫۱۸)

 

بازدهی فرایند به این صورت تعریف می شود:
Y = (1 − p)n = P(A).             (۱٫۱۹)
P(B) = (1 − p)m.             (۱٫۲۰)
P(A ∩ B) = P(A) = (1 − p)n.     (۱٫۲۱)
P(A|B) = P(A ∩ B)/P(B) = (1 − p)n/(1 − p)m
= (۱ − p)n(1−m/n) = Y (1−FC).         (۱٫۲۲)

 

سطح نقص را می توان به این صورت بیان نمود:
DL = 1 − P(A|B) = 1 − Y (1−FC)    . (۱٫۲۳)

شکل ۱٫۴ منحنیها برای DL را به صورت تابعی از Y و FC نشان می دهد؛ این یک تابع غیرخطی Y است. با این حال، برای مقادیر بزرگ Y، که نشانگر فرایندهای تولیدی با بازدهی بالا هستند، رویکرد به یک خط راست میل می کند.
مثال ۱٫۳  یک فرایند تولیدی با بازدهی Y = 0.5 و یک تست با FC = 0.8 را در نظر بگیرید؛ در این صورت DL = 1 − ۰٫۵(۱−۰٫۸) = ۰٫۱۲۹۵ می باشد که بدنی معناست که ۱۲٫۹۵% تمام قطعات تحویل شده ناقص هستند. اگر یک DL برابر با ۲۰۰ DPM (یعنی DL = 0.0002 = 0.02%) لازم باشد، با داشتن Y = 0.5، پوشش خرابی باید FC = 1 − (log(1 −DL)/ log Y ) = 0.999 71 باشد، که ۹۹٫۹۷۱% است.

شکل ۱٫۴  سطح نقص به صورت تابعی از پوشش خرابی